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ⓘ Microscopio




Microscopio
                                     

ⓘ Microscopio

Il microscopio è uno strumento scientifico che consente di ingrandire limmagine degli organismi di piccole dimensioni con laiuto di una lente. Permette di osservarne i dettagli e quindi permette una osservazione diretta ad occhio nudo. Il microscopio può essere di tipo ottico, basato sullosservazione diretta dello spettro elettromagnetico visibile, oppure elettronico, basato sullosservazione tramite fasci di elettroni, o a scansione di sonda, basato sullesplorazione della superficie del campione con una sonda materiale, oppure di altro tipo.

I primi strumenti utilizzabili, nellambito dei microscopi di tipo ottico, vennero prodotti nei Paesi Bassi alla fine del XVI secolo, ma linvenzione vera e propria è tuttora controversa. Galileo ne inviò uno di sua costruzione al principe Federico Cesi, fondatore dellAccademia dei Lincei, per mostrargliene il funzionamento. Galileo definiva lo strumento un "occhialino per vedere le cose minime". Tra i primi scienziati ad utilizzare, diffondere e migliorare luso di questo potente strumento, a partire dal XVII secolo, si ricordano Marcello Malpighi, Antoni van Leeuwenhoek, Robert Hooke e Michela Campana, Bartolomeo Panizza. Questultimo ebbe il merito di istituire il primo corso di anatomia microscopica in Italia.

                                     

1.1. Descrizione Parte meccanica

La parte meccanica deve essere robusta e relativamente pesante per consentire la necessaria stabilità al sistema. Lo stativo rappresenta il corpo principale del microscopio ed ha la funzione di fare da supporto ai meccanismi di movimento e di messa a fuoco ed alla parte ottica.

La parte meccanica del microscopio alloggia anche il sistema di illuminazione, in caso di sistemi con illuminazione incorporata. Il preparato da osservare si pone sul tavolino portaoggetti, dotato di un carrello traslatore per mezzo del quale il preparato può essere spostato agevolmente eventualmente con movimenti meccanici micrometrici nelle direzioni destra-sinistra e avanti-indietro. Al di là del tavolino portaoggetti, verso lilluminazione si trova un supporto meccanico che ospita il condensatore ed il diaframma di apertura. Ancora oltre, prima dellilluminatore, si trova il diaframma di campo. Il microscopio deve essere dotato di un sistema molto accurato di messa a fuoco sia del preparato che del sistema di illuminazione. Il tavolino portaoggetti viene spostato verticalmente rispetto allobiettivo attraverso i comandi di messa a fuoco macrometrici e micrometrici o alternativamente si può spostare lottica rispetto al tavolino. Il condensatore focalizza correttamente lilluminazione sul preparato, il collettore focalizza la sorgente luminosa in un particolare piano ottico del condensatore.

                                     

1.2. Descrizione Parte funzionale

La parte funzionale, in genere chiamata ottica per gli strumenti basati sullutilizzo della luce, è formata da tre o quattro sistemi di lenti e dalla sorgente, che, nei sistemi composti a radiazione trasmessa, partendo dalla base del microscopio, sono:

  • lobiettivo;
  • la sorgente;
  • il condensatore con il diaframma di apertura;
  • il collettore della sorgente o condensatore di campo, col diaframma di campo;
  • loculare.

Leventuale parte di microscopio, nella quale vanno inseriti gli obiettivi multipli, che possono essere scelti in base allingrandimento voluto, si chiama revolver.

                                     

1.3. Descrizione Potere di risoluzione

La risoluzione laterale di un microscopio è quella minima distanza tra due punti, che permette ancora di distinguerli; se la distanza tra i due punti è minore, essi si confondono in uno solo. Nel caso che lo strumento si basi sullutilizzo di radiazione con una propria lunghezza donda associata, come i tradizionali microscopi ottici, risoluzione e lunghezza donda utilizzata sono parametri tra loro strettamente correlati. Microscopi che si basino su diverse tecnologie, come ad esempio lAFM, ovviamente rispondono a considerazioni differenti. In prima approssimazione, e non tenendo conto di aberrazioni ottiche, possiamo considerare che la relazione che lega la risoluzione laterale d, ovvero la distanza tra due punti tra loro risolti, la lunghezza donda della radiazione utilizzata e lapertura numerica di un sistema ottico tutto il sistema sia:

d = 0, 6098 λ A N {\displaystyle d=0.6098{\frac {\lambda }{A_{N}}}}

Questa relazione è generalmente nota come principio di Abbe.

Per un microscopio ottico in luce visibile, d raggiunge i 0.2 μm; il microscopio elettronico giunge a 0.1 nm.

Il potere risolutivo è il reciproco della risoluzione laterale.



                                     

1.4. Descrizione Ingrandimento

Si definisce tale il rapporto tra le dimensioni dellimmagine ottenuta e quelle delloggetto originale. Lingrandimento lineare o angolare da non confondersi con quello areale o di superficie, alle volte utilizzato, in caso di microscopi composti è dato da:

M A = M o × M e {\displaystyle \mathrm {MA} =M_{o}\times M_{e}}

dove M o {\displaystyle M_{o}} è lingrandimento dellobiettivo, dipendente dalla sua lunghezza focale f o {\displaystyle f_{o}} e dalla distanza d i {\displaystyle d_{i}} tra il piano focale posteriore dellobiettivo e il piano focale delloculare, ed M e {\displaystyle M_{e}} quello delloculare.

M o = d i f o {\displaystyle M_{o}={d_{i} \over f_{o}}}

d i {\displaystyle d_{i}} viene chiamato anche lunghezza ottica del tubo, fissa, e nei moderni strumenti ottici generalmente di 160 mm. Da notare che gli obiettivi devono essere progettati per una data lunghezza ottica di utilizzo riportata sullobiettivo stesso. In passato era abbastanza diffusa la misura 170 mm, mentre attualmente ha preso piede la progettazione di sistemi corretti allinfinito. Anche lingrandimento oculare dipende dalla sua lunghezza focale f e {\displaystyle f_{e}} e può essere calcolato dalle normali equazioni delle lenti di ingrandimento.

Quindi, per calcolare lingrandimento al quale si osserva un campione, si moltiplica quello proprio dellobiettivo per quello delloculare. Tale ingrandimento è quello dellimmagine visibile, idealmente riportata sul piano in cui giace il campione stesso, e cioè alla distanza tra questultimo e locchio dellosservatore. Diversa è la situazione se limmagine viene raccolta su di uno schermo o una lastra fotografica: in questo caso è necessario tenere conto dellaltezza dello schermo o pellicola rispetto alloculare e lingrandimento sarà quello risultante sul negativo. In questi casi conviene sempre usare un vetrino micrometrico, per avere un sicuro termine di paragone. Con i migliori obiettivi ed oculari e nelle ideali condizioni di illuminazione lingrandimento utile, senza perdita di risoluzione, del microscopio ottico può raggiungere i 1000 - 1500 diametri 1000 - 1500×.

Aumentando il tiraggio del tubo o proiettando limmagine su di uno schermo lontano, si potrebbero raggiungere ingrandimenti molto maggiori, ma il potere risolutivo che, come abbiamo visto sopra, è funzione della lunghezza donda della luce visibile, non ne sarebbe in alcun modo incrementato.

                                     

1.5. Descrizione Aberrazioni

Le principali aberrazioni, difetti del sistema nel formare unimmagine nitida e risolta, che affliggono i microscopi, le loro eventuali correzioni si possono riassumere in:

  • Astigmatismo dei fasci obliqui--> sistemi anastigmatici
  • Curvatura di campo
  • Aberrazione cromatica--> sistemi acromatici --> sistemi apocromatici
  • Coma--> sistemi asferici
  • Aberrazione sferica--> sistemi asferici
  • distorsione a cuscino e barilotto --> sistemi asferici

A seconda della branca di microscopia considerata, tali difetti saranno più o meno rappresentati. Ad esempio utilizzando radiazione di una sola lunghezza donda, non avremo aberrazioni di tipo cromatico.

                                     

2. Tipologie

I microscopi si dividono sommariamente, a seconda del sistema adoperato per indagare il campione, in microscopi ottici, microscopi elettronici, microscopi a scansione di sonda, microscopi binoculari da dissezione, microscopi di altro tipo:

  • Il microscopio elettronico a trasmissione TEM utilizza come sorgente un fascio doppio di elettroni di un certo potenziale, ha risoluzione molto maggiore di quello ottico e permette di rilevare, oltre allimmagine, anche numerose altre proprietà fisiche del campione, ma è molto complesso e costoso, deve funzionare in assenza daria, inoltre non fornisce immagini in vivo. Le immagini, ottenute al di fuori del campo del visibile, possono essere in bianco e nero o a falsi colori. Permette con i maggiori ingrandimenti di distinguere gli atomi. È quasi mille volte più potente del microscopio ottico ed ha una risoluzione che si spinge, in casi estremi, fino a 0.05 nanometri.
  • Il microscopio ottico utilizza come sorgente la luce, intesa in senso generale come radiazione elettromagnetica dal vicino infrarosso allultravioletto, anche se i microscopi più diffusi utilizzano proprio la radiazione visibile, ha risoluzione tipicamente minore rispetto al microscopio elettronico, ma è generalmente economico e fornisce immagini a colori anche di organismi viventi. Con il microscopio ottico si possono ad esempio distinguere i batteri. Una descrizione a sé merita tuttavia lo SNOM Scanning Near-Field Optical Microscope, descritto in seguito, che permette di raggiungere risoluzioni fino a 200 nm. In pratica migliora la visione a occhio nudo di 500 volte.
  • Il microscopio a scansione di sonda SPM esplora il preparato in maniera analoga a quello che fa una puntina grammofonica, basandosi su diversi fenomeni fisici di scala molecolare e atomica come leffetto tunnel le forze di Van der Waals. Ha una risoluzione limitata, di 10 nm, ma permette rappresentazioni tridimensionali di cellule e di strutture cellulari.
  • Altri tipi di microscopi sfruttano diverse radiazioni, le onde acustiche e differenti fenomeni fisici.

Data la vastità dellargomento, quella che segue è solamente una sintesi. Per lapprofondimento si rimanda alle specifiche singole voci.



                                     

2.1. Tipologie Microscopio ottico

I microscopi ottici, che utilizzano le lunghezze donda della luce visibile, sono i più semplici e quelli di più comune utilizzo. Sono costituiti da un sistema di lenti adatto a focalizzare la luce nellocchio o in un altro dispositivo rivelatore. Lingrandimento tipico dei microscopi ottici, allinterno dello spettro di luce visibile, è fino a 1500x, con un limite di risoluzione teorica di circa 0.2 µm. Tecniche più sofisticate, come la microscopia confocale a raggio laser o la vertico SMI, possono superare questo limite di ingrandimento, ma la risoluzione è limitata dalla diffrazione. Lutilizzo di lunghezze donda più piccole, come lultravioletto, è un modo per migliorare la risoluzione spaziale del microscopio ottico, così come la microscopia ottica in campo prossimo SNOM.

                                     

2.2. Tipologie Microscopio a raggi X

Tale microscopio è basato sullutilizzo di radiazioni X molli, come radiazioni sincrotroniche. A differenza della luce visibile, i raggi-X non si riflettono né si rifrangono facilmente, e sono invisibili per locchio umano, ponendo diversi problemi tecnologici. La risoluzione è intermedia tra il microscopio ottico ed elettronico, ma con diversi vantaggi nellosservazione delle strutture biologiche.

Viene utilizzato anche per studiare le strutture di molecole e ioni presenti allinterno della cellula mediante analisi delle figure di diffrazione analogamente alla cristallografia a raggi X. Quando i raggi emessi attraversano le strutture cellulari subiscono delle diffrazioni che verranno impresse su una lastra fotografica, apparendo come delle sfocate bande concentriche. Dalla analisi della differente disposizione di tali bande si potrà determinare la distribuzione atomica delle molecole allinterno dei tessuti analizzati.

                                     

3. Microscopi elettronici e ionici

Il microscopio elettronico "illumina" i campioni in esame, invece che con un fascio di luce visibile, con un fascio di elettroni, di lunghezza donda quindi più breve, e per il principio di Abbe permette di ottenere immagini con una risoluzione maggiore. Al contrario dei microscopi ottici utilizzano lenti magnetiche per deviare i fasci di elettroni cariche elettriche in movimento, quindi sensibili al campo magnetico e quindi ingrandire le immagini.

I microscopi elettronici sono molto costosi, devono operare in assenza daria sotto vuoto, in assenza di vibrazioni e di campi magnetici. Inoltre hanno bisogno di correnti a tensioni molto elevate almeno 5kV e molto stabili.

Per il medesimo principio di Abbe, diminuendo ulteriormente la lunghezza donda e utilizzando sempre particelle cariche, si possono avere strumenti con risoluzioni maggiori, utilizzando ad esempio ioni.

                                     

3.1. Microscopi elettronici e ionici Microscopio elettronico a scansione SEM

Il microscopio elettronico a scansione, al contrario di quello a trasmissione, ricava limmagine illuminando con un fascio di elettroni un oggetto anche relativamente grande un insetto per esempio e rilevando gli elettroni secondari riflessi, e può quindi fornire immagini 3D. Può analizzare solo oggetti conduttori o semi-conduttori. Gli oggetti organici devono quindi essere prima rivestiti con una sottile lamina metallica. Questo strumento ha la necessità di operare in condizioni di vuoto elevato: per questo è stato sviluppato il microscopio elettronico ambientale a scansione che, libero da questo vincolo, è in grado di analizzare campioni di materiale organico controllando e modificando a piacimento le condizioni di temperatura, pressione ed umidità.

                                     

3.2. Microscopi elettronici e ionici Microscopio elettronico a trasmissione TEM

Il microscopio elettronico a trasmissione fa attraversare un campione molto sottile da 5 a 500 nm da un fascio di elettroni, quindi con un insieme di magneti che funzionano come le lenti del microscopio ottico ingrandisce limmagine ottenuta che viene infine proiettata su uno schermo fluorescente rendendola visibile. Dà immagini della struttura interna delloggetto esaminato, al contrario del SEM che ne dà solo la superficie, ma permette di ottenere solo immagini 2D. Raggiunge i nanometri, permettendo di vedere anche le molecole più piccole.

Ulteriori miglioramenti hanno prodotto lHRTEM High-Resolution Transmission Electron Microscope, col quale è stato possibile distinguere i singoli atomi di litio in un composto.

                                     

3.3. Microscopi elettronici e ionici Microscopio elettronico ad emissione di campo

Allinterno di un bulbo di vetro è fatto il vuoto. La superficie del bulbo è ricoperta da una patina fluorescente, mentre al centro è contenuta una punta di tungsteno dal diametro molto piccolo. Tra la punta e la superficie del bulbo è presente una differenza di potenziale molto alta, in modo che nei punti prossimi alla punta esista un campo elettrico molto intenso si raggiungono valori nellordine dei milioni di volt al centimetro. Se la punta è carica negativamente gli elettroni di essa vengo strappati dal campo elettrico e accelerati radialmente verso lo schermo: dallimmagine ottenuta si può ricostruire la disposizione degli atomi della punta stessa con una risoluzione di circa 25 Å. Lincertezza è dovuta ad effetti di diffrazione quantistica e al moto disordinato degli elettroni, le cui velocità mantengono quindi componenti non radiali anche dopo lestrazione. Nel caso in cui, invece, allinterno del bulbo sia iniettato dellelio e la punta sia caricata positivamente sono le molecole di gas ionizzato in prossimità della punta ad essere accelerate verso le schermo. Siccome questi ioni sono molto più pesanti degli elettroni la lunghezza donda quantistica è decisamente ridotta e la risoluzione dello strumento è di circa 1 ångstrom. Limmagine prodotta sullo schermo presenta quindi chiazze scure in prossimità degli interstizi tra due atomi e tracce dellarrivo delle molecole di elio ionizzate dai nuclei. Si sono raggiunti ingrandimenti pari a 2000000x 10 volte maggiori rispetto al microscopio a scansione per effetto tunnel.



                                     

3.4. Microscopi elettronici e ionici Microscopio ionico

Il microscopio ionico si colloca sulla stessa linea teorica che permette di passare dal microscopio ottico al microscopio elettronico, ma utilizzando fasci di ioni invece che di elettroni; ricordando poi la relazione fondamentale della meccanica ondulatoria:

λ = h m v {\displaystyle \lambda ={h \over \ mv}}

esposta da de Broglie nel concetto di dualismo onda-particella, è evidente che, aumentando la massa m delle particelle illuminanti il campione, diventa possibile lavorare con lunghezze donda associate minori, che consentono quindi, per il principio di Abbe, risoluzioni ancora maggiori.

Un esempio di microscopio ionico è dato dallo SHIM, acronimo di Scanning Helium Ion Microscope.

                                     

4. Microscopi a scansione di sonda SPM

  • Il microscopio a scansione di sonda SPM esplora il preparato in maniera analoga a quello che fa una puntina grammofonica, basandosi su diversi fenomeni fisici di scala molecolare e atomica come leffetto tunnel le forze di Van der Waals. Ha una risoluzione limitata, di 10 nm, ma permette rappresentazioni tridimensionali di cellule e di strutture cellulari.
                                     

4.1. Microscopi a scansione di sonda SPM Microscopio a scansione per effetto tunnel STM

Con questa tecnica si riescono a raggiungere precisioni molto elevate: fino a 1 Å. Questo tipo di microscopio consente di analizzare la superficie di un campione conduttore o semiconduttore drogato utilizzando, come sensore, una punta cresciuta su di un cristallo singolo di tungsteno e rastremata alla sommità fino allo spessore di qualche atomo: a questa punta, posta ad una distanza molto ravvicinata dal campione, viene applicato un piccolo potenziale ad esempio dellordine del volt rispetto al campione. Quando la punta è sufficientemente vicina al campione una corrente fluisce dalla punta verso il campione o viceversa per effetto tunnel elettronico. Poiché la corrente, a parità di tensione applicata, varia con la distanza della punta dalla superficie del campione, tramite un processo di retroazione è possibile mantenere costante tale corrente o distanza, muovendo la punta sullasse ortogonale alla superficie del campione con la precisione garantita da un attuatore piezoelettrico. Effettuando una scansione su tutta la superficie del campione e registrando punto per punto i valori della corrente, è possibile ricostruirne un modello tridimensionale.

                                     

4.2. Microscopi a scansione di sonda SPM Microscopio ottico a scansione in campo prossimo SNOM

La microscopia ottica è stata la prima a nascere ed ancora oggi è la più popolare ed usata per via della sua semplicità ed immediatezza nellinterpretazione dei risultati. Il limite principale di questo tipo di microscopia sta nella risoluzione massima ottenibile che è strettamente legata alla diffrazione. Il cosiddetto criterio di Abbe limita infatti la risoluzione massima a circa 0.5 λ/n sin θ per un sistema ottico avente apertura numerica n sin θ, che impieghi luce di lunghezza donda λ.

Per luce nello spettro visibile essa si attesta sui 0.2 ÷ 0.4 µm, circa due ordini di grandezza più grande rispetto alle tecniche di microscopia moderne non ottiche. Nel 1928 E. H. Synge, in una discussione con Albert Einstein, propose lo schema di un nuovo microscopio, il microscopio ottico a scansione in campo prossimo, SNOM Scanning Near-Field Optical Microscope, che superava il limite di diffrazione collocato: il campione doveva essere illuminato attraverso una piccolissima apertura avente dimensioni molto minori della lunghezza donda della luce impiegata, posta a distanze z < < λ dalla sua superficie, nel cosiddetto campo prossimo near-field; la luce raccolta da sotto il campione nel far-field contiene informazione relativa ad una piccola porzione di superficie delle dimensioni dellapertura di illuminazione.

I primi a superare il limite di diffrazione usando luce visibile furono Pohl e altri allIBM di Zurigo sfruttando parte della tecnologia già adoperata nel microscopio a scansione ad effetto tunnel STM; usando radiazione a λ = 488 nm ottennero risoluzioni di 25 nm ovvero di λ/20. Lilluminazione del campione veniva fatta focalizzando la luce di un laser su un cristallo di quarzo appuntito che guidava la luce nella parte terminale ricoperta da un film di alluminio che presentava unapertura di qualche decina di nm dalla quale fuoriusciva la luce. Le sonde utilizzate oggi sono delle fibre ottiche monomodo appuntite con unapertura terminale di 50 ÷ 150 nm e ricoperte da un sottile strato di alluminio, che serve a convogliare una maggiore quantità di luce sullestremità per effetto punta. Le punte vengono prodotte stirando le fibre con delle apposite micropipette pullers, riscaldando il punto dove si vuole rompere mediante il fascio focalizzato di un laser a CO 2 ; altre tecniche di attacco chimico di fibre ottiche in HF, consentono di formare strutture appuntite di geometria variabile e controllata.

Un film di alluminio tipicamente uno spessore di 1000 Å viene depositato per evaporazione sulla fibra in rotazione attorno al suo asse, angolata di circa 30º rispetto allorizzontale, in modo la lasciare unapertura non ricoperta di diametro variabile dai 20 ai 500 nm. Più recentemente, limpiego di punte metalliche oro, argento con raggi di curvatura apicali dellordine dei 10 nm, consente di raggiungere risoluzioni spaziali sub-10 nm nello spettro visibile. Leffetto fisico alla base di questo tipo di sonde è lamplificazione di campo field enhancement, legata da un lato alla geometria della sonda punta, effetto parafulmine, dallaltro alle proprietà elettroniche dei materiali oscillazioni collettive di elettroni, surface plasmons che consentono di ottenere fattori di enhancement fino a 10 6.

                                     

4.3. Microscopi a scansione di sonda SPM Microscopio a forza atomica AFM

Il microscopio a forza atomica permette di effettuare analisi non distruttive di superfici, con una risoluzione inferiore al nanometro. Una sonda di dimensioni dellordine del micrometro, detto cantilever, esplora la superficie da analizzare a brevissima distanza da essa circa 1 nanometro = anche a 10 Ångström. Interagendo con gli atomi del campione, per effetto delle forze di Van der Waals, subisce microscopiche deflessioni che, attraverso sensibilissimi dispositivi leva ottica ed altri, vengono tradotte nei dettagli di unimmagine topografica tridimensionale della superficie del campione. Rispetto allo Scanning Electron Microscope SEM e allo Scanning Tunnelling Microscope STM, il microscopio a forza atomica ha il vantaggio di consentire analisi non distruttive, su campioni non trattati e di adattarsi anche a campioni di materiale non conduttore fornendone una reale mappa tridimensionale, a fronte di unarea ed una profondità di scansione limitate e di un tempo necessario allindagine relativamente lungo. Tipicamente viene impiegato per esaminare macromolecole biologiche, parti di microorganismi, dispositivi a semiconduttore.

                                     

5.1. Altre tipologie di microscopio Microscopio acustico

Si tratta duno strumento che impiega frequenze ultrasoniche. Opera non distruttivamente, penetrando molti solidi al pari dun ecografo. Il microscopio acustico risale al 1836, quando S. Ya. Sokolov lo propose come mezzo per produrre immagini ingrandite a mezzo di frequenze acustiche di 3 GHz. Fino al 1959, quando Dunn Fry realizzò i primi prototipi, non fu possibile costruirne alcuno. Strumenti di reale utilità applicativa arrivarono solo negli anni settanta. Attualmente sono tre le tipologie di strumenti usati:

  • microscopio a scansione acustica in modalità C C-SAM, il tipo più diffuso.
  • microscopio a scansione acustica SAM
  • microscopio a scansione laser acustica SLAM

I campi dapplicazione spaziano dagli utilizzi tecnologici nei controlli di qualità di elementi meccanici ed elettronici, fino ad indagini di biologia cellulare, investigando comportamento meccanico e caratteristiche di strutture quali il citoscheletro.

                                     

5.2. Altre tipologie di microscopio Microscopio confocale + forza atomica + riflessione interna totale in fluorescenza

I laboratori di nanoscienze NNL del CNR hanno realizzato un microscopio che nasce dallunione di tre strumenti: un microscopio confocale laser per studiare il volume vista dallesterno, un microscopio a forza atomica per visualizzare i dettagli della superficie vista dallalto, e un microscopio a riflessione interna totale in fluorescenza, che mostra come la cellula aderisce al supporto.

Il microscopio permette una visione quanto mai completa della cellula, oltre a misurare lelasticità della membrana cellulare, importante marker, che lo rende utile nello diagnosi del tumore.

Ogni strumento è capace di raggiungere risoluzioni di miliardesimi di metro. Una delle prime applicazioni sarà il test della somministrazione cellulare selettiva di antitumorali mediante nanocapsule.

                                     
  • Il microscopio elettronico è un tipo di microscopio che non sfrutta la luce come sorgente di radiazioni, ma un fascio di elettroni. Fu inventato dai tedeschi
  • Il microscopio ottico è un tipo di microscopio che sfrutta la luce con lunghezza d onda dal vicino infrarosso all ultravioletto, coprendo tutto lo spettro
  • Il microscopio stereoscopico, noto anche come stereomicroscopio, microstereoscopio o dissezionatore, è un tipo di microscopio ottico progettato per produrre
  • Commons contiene immagini o altri file sulla costellazione del Microscopio EN Microscopio su Enciclopedia Britannica, Encyclopædia Britannica, Inc.
  • Un microscopio a fluorescenza, è un microscopio ottico utilizzato per studiare campioni organici o inorganici sfruttando i fenomeni della fluorescenza
  • Il microscopio elettronico a trasmissione, di solito indicato con l acronimo TEM, dall inglese transmission electron microscope è un tipo di microscopio
  • Il microscopio elettronico a scansione, comunemente indicato con l acronimo SEM dall inglese Scanning Electron Microscope è un tipo di Microscopio elettronico
  • Il microscopio confocale è un microscopio ottico, uno strumento scientifico che si basa su una tecnologia volta ad accrescere sensibilmente la risoluzione
  • Il microscopio a forza atomica spesso abbreviato in AFM, dall inglese Atomic Force Microscope è un microscopio a scansione di sonda SPM inventato
  • stata istituita nel 1981 con l invenzione del microscopio a scansione a effetto tunnel. Molti microscopi a scansione di sonda sono in grado di raffigurare